Dielektryczne badania cienkiej warstwy C60 Academic Article uri icon

abstract

  • Przedstawiono rezultaty badań dielektrycznych cienkiej warstwy fullcrcnu Cf) 0 o grubości 149 nm ze srebrnymi elektrodami. Zaobserwowano przejście fazowe drugiego rodzaju z wysokotemperaturowej fazy/cc do niskotemperaturowej scw Tc= 240K, o 20K niższej niż dla monokryształu. Zmiana charakteru przejścia fazowego z pierwszego rodzaju dla monokryształów na drugiego rodzaju dla badanej próbki związana jest z defektami struktury i dyfuzją srebra do warstwy fullerenu.

publication date

  • January 1, 2000

published in